納米檢測顯微鏡 LEXT OLS4500

LEXT OLS4500是結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡、激光掃描顯微鏡(LSM)以及掃描探針顯微鏡(SPM)功能為一體的革新機(jī)，從而可以實(shí)現(xiàn)對觀測對象從幾十倍到百萬倍的連續(xù)放大, 可以滿足不同樣品的超高分辨率三維觀察，以及尺寸測量、微粗糙度測量等各種觀測需求。

通過在多種顯微鏡和觀察模式間自由切換，LEXT OLS4500可以輕松實(shí)現(xiàn)從毫米到納米的超大范圍觀察和測量，這使得觀察對象的定位變得精準(zhǔn)快捷，在大大縮短了獲取影像時間的同時保護(hù)了探針，并且不用擔(dān)心觀測目標(biāo)的丟失。另外，這種一體的革新設(shè)計可以實(shí)現(xiàn)對同一對象的多手段原位觀測，從而提高了對觀測結(jié)果分析解釋的準(zhǔn)確性和可信度！

l 光學(xué)顯微鏡：

裝有倍率不同的四種物鏡，集合了明視野觀察（BF）、微分干涉觀察（DIC）、簡易偏振光觀察及HDR（高動態(tài)范圍）觀察等多種功能。

l 激光顯微鏡：

采用短波長405nm的激光光源和高數(shù)值孔徑的專用物鏡、以及的共焦光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了優(yōu)異的平面分辨率。在激光微分干涉模式中還可以實(shí)現(xiàn)觀察納米級的微小凹凸。

l 掃描探針顯微鏡：

專業(yè)的針尖對齊夾具避免了在